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单晶硅纳米力学性能是如何测试的?
  • 发布日期:2026-01-12      浏览次数:45
    • 单晶硅纳米力学性能的测试主要通过‌纳米压痕技术‌进行,这是一种通过在试样表面施加逐渐增大的载荷,使试样经历弹性变形、延性变形直至脆性断裂的过程,并记录加载-卸载曲线,从而获取材料的硬度、弹性模量等关键力学参数的方法。

      单晶硅纳米力学性能测试机基本原理:

      在单晶硅表面施加渐进载荷,通过金刚石压头(如Vickers型)压入材料表面,记录载荷-位移曲线(加载-卸载曲线)。

      压入过程分为三个阶段:弹性变形 → 塑性变形 → 脆性断裂。通过分析曲线斜率、压痕深度等数据,计算硬度(Hardness) 和 弹性模量(Elastic Modulus)。

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      单晶硅纳米力学性能测试机技术参数:

      1.  产品规格:   MX-0230

      2. 精度等级:   0.5级

      3. 负荷:1N/5N/10N/20N/50N/100N/200N/ 500N(任选或多选)

      4. 有效测力范围:0.1/100-100;

      5. 试验力分辨率,负荷±500000码;内外不分档,且全程分辨率不变。

      6. 位移分辨率:0.0001mm

      7.  变形分辨率:0.0001mm

      8. 有效试验宽度:120mm

      9. 有效试验空间:300mm

      10. 试验速度:0.001~300mm/min(任意调)

      11.  速度精度:示值的±0.5%以内;

      12.位移测量精度:示值的±0.5%以内;

      13.变形测量精度:示值的±0.5%以内;

      14.应力控速率范围: 0.005%~6%FS/S

      15.应力控速率精度: 速率<0.05%FS/S时,为设定值的±1%以内;速率≥0.05%FS/S时,为设定值的±0.5%以内;

      16.应变控速率范围: 0.002%~6%FS/S

      17.应变控速率精度: 速率<0.05%FS/S时,为设定值的±2%以内;速率≥0.05%FS/S时,为设定值的±0.5%以内;

      18. 恒力/位移/变形测量范围:0.5%~100FS

      19.恒力/位移/变形测量精度:设定值<10%FS时, 为设定值的±1%以内; 设定值≥10%FS时, 为设定值的±0.1%以内;

      20.试台升降装置:快/慢两种速度控制,可点动;

      21.试台安全装置:电子限位保护

      22.试台返回:手动可以高速度返回试验初始位置,自动可在试验结束后自动返回;

      23.试验定时间自动停车,试验定变形自动停车,试验定负荷自动停车

      24.超载保护:超过大负荷10%时自动保护;

      25. 自动诊断功能,定时对测量系统、驱动系统进行过载、过压、过流、超负荷等检查,出现异常情况立即进行保护

      26.电源功率: 200W     

      27.主机重量: 40kg

      28. 电源电压:  220V(单相)

      29. 主机尺寸:430*315*855mm


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